MSV
3.-7.10. 2016
Mezinárodní strojírenský veletrh
LiteScope
PROFIL EXPONÁTU | |
Exponát: | LiteScope |
Kategorie: |
Zlatá medaile za inovaci prokazatelně ve smluvní spolupráci firem s výzkumnou organizací |
Umístění: | Pav. Z, č. st. 33 |
Výrobce: | NenoVision, s.r.o. |
Vystavovatel: | Vysoké učení technické v Brně |
Stručná charakteristika exponátu
LiteScope je volitelným příslušenstvím elektronových mikroskopů (SEM). Umožňuje 3D charakterizaci povrchu nebo například měření magnetických a elektrických vlastností pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM). Litescope se využívá pro analýzu vzorků v nano a mikro technologiích na oblasti 100x100 µm s rozlišením až 0,4 nm. Zcela nová měřící metoda CPEM (Corelative Probe and Electron Microscopy) nabízí možnost přímé korelace obrazů povrchu komplementárními technikami SEM a AFM. Mikroskop LiteScope se uplatní v oblasti výzkumu a kontroly kvality v materiálových vědách, polovodičovém průmyslu nebo u solárních článků. Nízká cena, uživatelsky příjemný přístup a zcela nové techniky měření CPEM předurčují LiteScope k zavedení nového standardu příslušenství elektronových mikroskopů.
Foto
MSV
Pro vystavovatele
Pro novináře
Partneři
Současně také
Vybíráme z firem MSV